Témakiírások
Karakterizásiós eljárások fejlesztése és optimalizálása fotovillamos eszközökben használt perovszkit anyagok anyagparamétereinek vizsgálatára
témakiírás címe
Karakterizásiós eljárások fejlesztése és optimalizálása fotovillamos eszközökben használt perovszkit anyagok anyagparamétereinek vizsgálatára
doktori iskola
témakiíró
tudományág
témakiírás leírása
Korunk egyik legígéretesebb napelem- és elektronikai alapanyagai a perovszkit kristályszerkezetű, félvezető anyagok. Olcsó és egyszerű előállításuk, beállítható tiltott sávszélességük és jó optikai tulajdonságaik számos alkalmazás esetében döntő előnyt jelenthetnének. Pozitív tulajdonságaik ellenére számos téren további kutatás és fejlesztés szükséges, mire minden téren felvehetik a verseny a jelenleg használt anyagrendszerekkel. Az egyik ilyen terület a perovszkit anyagok anyagtulajdonságainak méréstechnikája. A szilícium esetében használt méréstechnikák nagyrésze ugyan alkalmazható perovszkit anyagoknál is, azonban számos pontos bizonyos mértékű adaptációt és finomhangolást igényelnek. Az egyik fontos mérendő jellemző a töltéshordozók élettartama és viselkedése, dinamikája, amely pl. tranziens fotolumineszcencia és tranziens vezetőképesség mérésekkel vizsgálható. A perovszkit rétegszerkezetekhez történő optimalizálás és kiértékelés, valamint az ipari hasznosíthatósága vizsgálata fontos ezen méréstechnikák gyakorlati elterjedéséhez. A töltéshordozók mozgékonyságénak meghatározására a Photo Hall mérés használható kiválóan, fotogerjesztéssel kombinálva pl. kisebbségi és többségi töltéshordozók meghatározására. Perovszkitok esetén továbbá a spektrális fotolumineszcencia is hasznosnak bizonyult az anyagok degradációs folyamatainak feltárásában.
A kiírt PhD témára jelentkező a BME Elektronikus Eszközök Tanszéke és a Semilab Zrt. együttműködésében létrejövő kutatásban vesz részt, amelynek során az egyetemi laboratóriumban elkészítendő perovszkit mintákon végzett mérések segítségével adaptálja és optimalizálja a fenti méréstechnikákat perovszkti anyagokhoz, és a mérési eredmények alapján optimalizálja az egyetem rétegleválasztási eljárásait.
A kiírt PhD témára jelentkező a BME Elektronikus Eszközök Tanszéke és a Semilab Zrt. együttműködésében létrejövő kutatásban vesz részt, amelynek során az egyetemi laboratóriumban elkészítendő perovszkit mintákon végzett mérések segítségével adaptálja és optimalizálja a fenti méréstechnikákat perovszkti anyagokhoz, és a mérési eredmények alapján optimalizálja az egyetem rétegleválasztási eljárásait.
felvehető hallgatók száma
1 fő
helyszín
EET
jelentkezési határidő
2026-01-15