Az adatok frissességéről nyilatkozott: 2024-05-12

Doktori Iskola Tanácsa
Debreceni Egyetem
Pekár Imre Gépészeti Tudományok Doktori Iskola

HUN-REN EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet

tudományos tanácsadó

Debreceni Egyetem

egyetemi tanár

ELKH EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet

tudományos tanácsadó

MTA EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet

tudományos tanácsadó

MTA-Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet

Tud. Főmunkatárs

Romanenko Alekszej, Gharaibeh Ali, Medgyes Bálint, Petrik Peter: Nanoscale monitoring of the initial stage of water condensation on a printed circuit board

HELIYON 11: (2) e42117

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

nyelv: angol

Mukherjee Deshabrato, Kertész Krisztián, Zolnai Zsolt, Kovács Zoltán, Deák András, Pálinkás András, Osváth Zoltán, Olasz Dániel, Romanenko Alekszej, Fried Miklós, Sven Burger, Sáfrán György, Petrik Peter: Optimized Sensing on Gold Nanoparticles Created by Graded-Layer Magnetron Sputtering and Annealing

SENSORS AND ACTUATORS B-CHEMICAL 425: 136875

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

nyelv: angol

Mukherjee Deshabrato, Petrik Peter: Real-Time Ellipsometry at High and Low Temperatures

ACS OMEGA 8: (4) pp. 3684-3697.

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 9

nyelv: angol

Budai Judit, Pápa Zsuzsanna, Petrik Péter, Dombi Péter: Ultrasensitive probing of plasmonic hot electron occupancies

NATURE COMMUNICATIONS 13: (1) 6695

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 8

nyelv: angol

Kalas B, Ferencz K, Saftics A, Czigany Z, Fried M, Petrik P: Bloch surface waves biosensing in the ultraviolet wavelength range - Bragg structure design for investigating protein adsorption by in situ Kretschmann-Raether ellipsometry

APPLIED SURFACE SCIENCE 536: 147869

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 19

nyelv: angol

Fodor B, Kozma P, Burger S, Fried M, Petrik P: Effective medium approximation of ellipsometric response from random surface roughness simulated by finite-element method

THIN SOLID FILMS 617: (Part A) pp. 20-24.

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 25

nyelv: angol

Agocs E, Fodor B, Pollakowski B, Beckhoff B, Nutsch A, Jank M, Petrik P: Approaches to calculate the dielectric function of ZnO around the band gap

THIN SOLID FILMS 571: (3) pp. 684-688.

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 30

nyelv: angol

Vazsonyi E, Szilagyi E, Petrik P, Horvath ZE, Lohner T, Fried M, Jalsovszky G: Porous silicon formation by stain etching

THIN SOLID FILMS 388: (1-2) pp. 295-302.

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 141

nyelv: angol

Petrik P, Lohner T, Fried M, Biro LP, Khanh N Q, Gyulai J, Lehnert W, Schneider C, Ryssel H: Ellipsometric study of polycrystalline silicon films prepared by low-pressure chemical vapor deposition

JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 87: (4) pp. 1734-1742.

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 50

nyelv: angol

Petrik P, Biro LP, Fried M, Lohner T, Berger R, Schneider C, Gyulai J, Ryssel H: Comparative study of surface roughness measured on polysilicon using spectroscopic ellipsometry and atomic force microscopy

THIN SOLID FILMS 315: (1-2) pp. 186-191.

dokumentum típusa: Folyóiratcikk

független idéző közlemények száma: 116

nyelv: angol