Thesis supervisor: László Jakab
Location of studies (in Hungarian): Elektronikai Technológia Tanszék Abbreviation of location of studies: ETT
Description of the research topic:
A felületszerelt áramkörök technológiájában az alkatrészek méretcsökkenése és az alkatrészsűrűség növekedése egyre összetettebb áramkörök gyártását eredményezi. Ezek in-line (gyártásközi) optikai ellenőrzése a gyártás szinte valamennyi fázisában elengedhetetlen a növekvő minőségi elvárások miatt. Az optikai vizsgáló berendezések fejlődése rohamos, képfeldolgozó algoritmusaik egyre kifinomultabbak. Jellemzőek a nagyteljesítményű spektrálisan vezérelhető koherens (lézeres) és nem koherens fényforrásokat (kisülőlámpás, LED-es), mechanikus (tükrös), optoelektronikai (akusztooptikai) illetve kombinált pásztázási módokat, illetve párhuzamos felépítésű nagyfelbontású kamerás rendszereket tartalmazó módszerek, nagysebességű képfeldolgozó illetve akár 3D képalkotó szoftverekkel kiegészítve. Ennek ellenére ezek, a már az iparban is alkalmazott rendszerek, mind a feldolgozási idő, mind a pontosság, mind a megbízhatóság tekintetében elmaradnak az elvárásoktól. Ez, valamint a technológia változásai (kisebb méretek, új technológiák pl. ólommentes vagy gőzfázisú forrasztás) is új, az eddigieknél gyorsabb és megbízhatóbb, a gyártási technológia szempontjából több információt szolgáltató, a hiba okok gyorsabb és pontosabb feltárását lehetővé tevő vizsgáló módszerek, rendszerek és algoritmusok kidolgozását igénylik. A kutatási munka célja az irodalomból ismert megoldások elemzése és értékelése, sebesség, méret, pontosság, megbízhatóság paraméterek összevetése, szimulációs és optikai kísérletek végzése új, az eddigiektől eltérő mérő és kiértékelő koncepciók és módszerek kutatása saját ötletek szerinti megoldásokkal.
A kutatási munkának az Elektronikai Technológia Tanszéken művelhető konkrét területei:
- nagy pontosságú stencil és forraszpaszta ellenőrző rendszer kutatása,
- in-line paszta illetve alkatrész felismerő illetve mérő rendszer kutatása mozgó panelekhez
- nagy hatásfokú, karakterisztikus spektrumú megvilágító rendszerek modellezése és létrehozása speciális alkalmazásokhoz
- virtuális alkatrész modellek fejlesztése megvilágítás optimalizációhoz
- nagysebességű képelemző algoritmusok eljárásainak kutatása
- sztereo módban működő vizsgálórendszerek kutatása
Required language skills: Angol nyelv szakmai szintű ism Number of students who can be accepted: 1
Deadline for application: 2018-07-30
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Login
