témavezető: Kertész Krisztián
belső konzulens: Barócsi Attila
helyszín (magyar oldal): MTA TTK MFA Nanoszerkezetek Osztály helyszín rövidítés: BME
A kutatási téma leírása:
A TTK MFA Nanoszerkezetek osztályán több mint tíz éve vizsgáljuk a természetben megtalálható és ezek alapján mesterségesen előállított fotonikus szerkezetek felépítését mikroszkópos technikákkal, illetve optikai tulajdonságaikat reflexiós és transzmissziós spektrometriával [1]. A kitinből és levegőből felépülő, biológiai eredetű nanoszerkezetek rendezett, vagy közelrendezett nanokompozitot alkotnak, amelyben a szerkezeti elemek ismétlődési távolsága a látható fény hullámhossztartományába esik. A megfelelően eltérő törésmutatójú anyagokból felépülő szerkezet fotonikus kristályt képez, ami képes befolyásolni bizonyos hullámhossztartományban a fény terjedését a nanoarchitektúrában. Ezáltal részleges, vagy teljes fotonikus „tiltott sáv” alakulhat ki. Az ebbe eső hullámhosszúságú fény terjedése nem megengedett a nanokompozitban. Számos, a természetben előforduló, élénk csillogó szín (nemesopál, bogarak páncélja, lepkék szárnya) ezen az elven képződik, és ezek megismerésével, anyagtudományi módszerekkel hasonló szerkezeteket lehet tervezni, elkészíteni, valamint működésüket számítógéppel modellezni.
Mivel a természetes szerkezetek vizsgálatából megállapítottuk, hogy a fotonikus tiltott sáv kialakulásához nincsen szükség tökéletes rendezettségre a szerkezetben, hasznos lenne ezt a tulajdonságot átültetni a mesterségesen készített nanokompozitokra is. Ezzel elérhetjük, hogy a nanoméretek tartományán pontos rendet követő de makroszkopikus méretű és így nehezen megvalósítható minták helyett kevésbé pontosan rendezett, de mégis fotonikusan jól működő szerkezeteket készítsünk. A nagy méretben készíthető minták készítése hozzásegíti a kutatások alkalmazások felé való elmozdítását.
A jelentkező feladata aktív részvétel a nanoarchitektúrák megtervezésében és előállításában, az optikai mérések megtervezése és elvégzése, a szerkezeteket jellemző pásztázó és transzmissziós elektronmikroszkópos képek elemzése, összehasonlítás a természetes szerkezetekkel.
előírt nyelvtudás: angol további elvárások: Optikai ismeretek, kísérletek összeállítása, adatokat kiértékelő és ábrázoló programok használata, angol nyelv ismerete