témavezető: Petrik Péter
helyszín (magyar oldal): MTA TTK MFA helyszín rövidítés: MFA
A kutatási téma leírása:
A feladat célja ellipszometriai méréstechnika fejlesztése speciális szenzorikai fehérjék és ultravékony nanoszerkezetek mérésére. A bioszenzorika perspektivikus anyagait (flagellin fehérjereceptor) és technikáit (szilanizálás, Langmuir-Blodgett módszer) egyaránt vizsgáljuk. Különösen fontos a flagellin fehérjereceptorok szubsztráthoz való kötésének, valamint a bioszenzorral analizálni kívánt anyag és a receptor kölcsönhatásának megfelelő érzékenységű mérése. Az általunk alkalmazott polarizációérzékeny spektroszkópiai módszer, az ellipszometria biztosítja a megfelelő érzékenységet (nanométeres pontosság), a mérés azonban indirekt, vagyis kvantitatív információ csak megfelelő optikai modellek alkalmazásával nyerhető a szerkezetről. A munka célja a rétegtulajdonságok meghatározása, a reakciók feltérképezése, és az ezekhez szükséges optikai modellek kidolgozása. A vizsgálatokat elsődlegesen folyadékcellában hajtjuk végre, ami lehetőséget biztosít a rétegépülés művelet közbeni optikai vizsgálatára, valamint arra, hogy a fehérjeréteget természetes közegében, folyadékban vizsgáljuk. 2009-től rendelkezésünkre áll a ma elérhető legkorszerűbb ellipszométer, egy Woollam M2000DI forgó kompenzátoros in situ spektroszkópiai ellipszométer, amely másodpercenként képes teljes mért spektrumokat felvenni a 190-1700 nm hullámhossztartományban. A munkához rendelkezésre áll az MFA nanoszenzorika laboratórium teljes eszköztára és tudásbázisa. (http://www.ellipszometria.hu)
A kutatási téma előzményei:
A tervezett munka egy 2010-ben induló OTKA kutatási programra épül, melynek célja különböző, főként a szenzorikában alkalmazott vékonyréteg-szerkezetek optikai vizsgálata.
további elvárások: Analitikus gondolkodásra és önálló problémamegoldásra való készség. Programnyelvek ismerete előny (MATLAB, C, Pascal).
Bejelentkezés
