témavezető: Ribárik Gábor
helyszín (magyar oldal): ELTE-TTK Fizikai és Csillagászati Intézet, Anyagfizikai Tanszék helyszín rövidítés: ELTE
A kutatási téma leírása:
"A röntgen vonalprofil analízis egy korszerű és hatékony módszer kristályos
anyagok mikroszerkezetének meghatározására.
Egy újabban kifejlesztett 3 dimenziós egykristály diffrakciós szinkrotronos
mérési módszer egykristály információk kinyerését teszi lehetővé polikristályos
mérésekből. A kiértékelés során egy speciális indexelési eljárás alkalmazásával
a szemcsék orientációja és az egy szemcséhez tartozó reflexiók azonosíthatók és
a nagyfelbontású diffrakciós csúcsokon vonalprofil analízis végezhető.
A szinkrotronos mérésekből gyakorlatilag 3 dimenziós röntgen profilokat
kapunk, azonban a jelenlegi kiértékelési módszerekkel csak korlátozott
információt használunk fel ebből: az eljárás során egydimenziós spektrumokká
redukáljuk az adatokat és egydimenziós elméleti spektrumokkal illesztjük.
Egy új, FFT (Gyors Fourier Transzformáció) alapú modellezési módszer
segítségével reális, 3 dimenziós periodikus mikroszerkezetek esetén
lehetővé vált a feszültség és deformációs tér meghatározása, illetve
utóbbiból 3 dimenziós röntgen profilokat is számolhatunk.
A hibaszerkezetet a kristályhibák belső deformációival adjuk meg.
A tervezett doktori munka során a jelölt a 3 dimenziós FFT alapú modellezési
módszert alkalmazza, illetve továbbfejleszti egykristályok és polikristályos
anyagok esetére és alkalmazza szinkrotronos mérések kiértékelése a mért és
modellezéssel kapott vonalprofilok összevetésével.
"
előírt nyelvtudás: angol ajánlott nyelvtudás (magyar oldal): francia további elvárások: "anyagtudomány alapos ismerete
jó programozási képességek"
felvehető hallgatók száma: 2
Jelentkezési határidő: 2024-05-31
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
