témavezető: Ribárik Gábor
helyszín (magyar oldal): ELTE TTK Fizikai és Csillagászati Intézet, Anyagfizikai tanszék helyszín rövidítés: ELTE
A kutatási téma leírása:
A mesterséges intelligencia (MI) az elmúlt időben széles körű figyelmet kapott az anyagtudományban is. A korszerű (pl. szinkrotronos) mérési technikák megjelenésével igen nagy számú adat áll rendelkezésünkre, melyek kezelése és kiértékelése jelentős kihívást jelent. A röntgen vonalprofil analízis (RVPA) a mikroszerkezet paramétereit adja meg a mérésekből. Az RVPA módszerekben alkalmazott elméleti függvények bonyolult nemlineáris módon függenek a mikroszerkezeti paraméterektől, ezek meghatározása a hagyományos algoritmusokkal jelentős gépidőt igényel és nem minden esetben találják meg az optimális megoldást. A röntgen vonalprofil analízisre számos kvalitatív és kvantitatív módszert fejlesztettek ki, melyekre a MI algoritmusok alkalmazhatók alternatív lehetőségként, egy gyorsabb, hatékonyabb és pontosabb módszerként a meglévő numerikus algoritmusok kiváltására. Egy újabban kifejlesztett 3 dimenziós egykristály diffrakciós szinkrotronos mérési módszer segítségével 3 dimenziós röntgen profilokat kapunk. A 3 dimenziós mérések kiértékelése a hagyományos módszerekkel nem lehetséges, egy jó lehetõségnek ígérkezik, hogy a szinkrotronos méréseket modellezéssel kapott profilokkal hasonlítjuk össze MI algoritmusok alkalmazásával. A doktori munka célja a röntgen vonalprofil analízis módszereinek továbbfejlesztése, illetve új MI alapú módszerek kifejlesztése.
előírt nyelvtudás: angol ajánlott nyelvtudás (magyar oldal): francia további elvárások: anyagtudomány ismerete, modellezési tapasztalat, C és python programozási ismeretek
felvehető hallgatók száma: 2
Jelentkezési határidő: 2024-05-31
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
