témavezető: Szirányi Tamás
helyszín (magyar oldal): Hálózati Rendszerek és Szolgáltatások Tanszék helyszín rövidítés: HIT
A kutatási téma leírása:
The different image sources can be joined in Markov Random Field approach, where this MRF model is segmented on the multiple sources by stochastic optimization, resulting in a fused model of MRF.
The proposed task of the applicant includes:
• Basic image processing and pattern recognition methodology
• Structuring Multilayer Markov Random Field models
• Machine Learning approaches, deep Neural Network solutions
• Semantic interpretation of image contents and change detection through image samples of different time instants
előírt nyelvtudás: Angol felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2023-01-10
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
