témavezető: Jancsó Tamás
helyszín (magyar oldal): Óbudai Egyetem helyszín rövidítés: ÓE
A kutatási téma leírása:
A fotogrammetriai mérések feldolgozásánál a durva hibák kiszűrésére számos megközelítésére létezik, így például. Ugyanakkor a mérések számának növekedésével a felderítendő durva hibák száma is megnő, ami a mérések feltételezett normális eloszlását már lényegesen befolyásolhatja. Ezért igény mutatkozik arra, hogy olyan eljárásokat dolgozzunk ki, melyek során a durva hibával terhelt mérések még a kiegyenlítési eljárás előtt kiszűrhetők legyenek. A számítástechnika rohamos fejlődése lehetővé teszi olyan kombinatorikai meggondolásokra épülő eljárások beiktatását a hibával terhelt mérések felderítési folyamatába, melyek számításigénye a hagyományos eljárásokkal szemben jóval nagyobb, de ezek a hibrid módszerek megengedik a hibák felderítését még a legkisebb négyzetek módszerével végzett kiegyenlítés előtt. A kidolgozandó módszer a hagyományos eljárásokhoz jól integrálható és ezzel nagymértékben javítható a durva hibával terhelt mérések felderítése.
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2020-09-01
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
