témavezető: Mizsei János
helyszín (magyar oldal): Elektronikus Eszközök Tanszék helyszín rövidítés: EET
A kutatási téma leírása:
A félvezető egykristály szeletek érintésmentes minősítése a technológia alapvetően fontos lépése. Az eddig 2 nagyságrendet átfogó (0,1-10 Ohmcm) szenzorok, melyek örvényáramú méréssel működnek sok mérési feladatra megoldást jelentenek. Igény merült fel azonban szélesebb mérési tartományra, a cél a 0,1-100 Ohmcm-es tartomány lefedése lenne.
A jelölt feladatai:
1. Tekintse át az örvényáramú mérési eljárás szakirodalmi hátterét különös tekintettel a félvezető egykristály szeletek minősítésére.
2. Dolgozzon ki új, örvényáramú módszeren alapuló érzékelő konstrukciót, amellyel az eddigieknél szélesebb tartományban vizsgálható a szeletek vezetőképessége. Végezzen minősítő és összehasonlító méréseket, értelmezze a kapott eredményeket. Vegyen részt a mérési módszer fejlesztésében az elméleti háttér, a hardver és szoftver elemek és a kiértékelési eljárások tekintetében is.
előírt nyelvtudás: angol további elvárások: Anyagtudományi, villamosmérnöki és szilárdtest-fizikai ismeretek, és jó kísérleti érzék. Használható angol nyelvtudás a szakirodalom megismerésére.
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2018-07-30
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
