témavezető: Kocsis Imre
helyszín (magyar oldal): Debreceni Egyetem Informatikai Kar helyszín rövidítés: DE IK
A kutatási téma leírása:
A műszaki diagnosztika fejlesztésének középpontjában ma elsősorban az adatfeldolgozási eljárások tökéletesítése áll. A korszerű elektronikai eszközök elegendően gyors mintavételezést, adatátvitelt és megfelelő tárolási kapacitást tesznek lehetővé, így a diagnosztikai munka hatékonysága elsősorban az adatfeldolgozó algoritmusok jóságán múlik.
A műszaki diagnosztikai célú adatfeldolgozási eljárások fejlesztése manapság intenzíven kutatott terület. A tárgy keretében jel- és képfeldolgozási módszerek diagnosztikai célú alkalmazásai kerülnek feldolgozásra gépészeti rendszerek állapotfelméréséhez kapcsolódóan.
Irodalom
R. X. Gao, R. Yan, Wavelets, Theory and Applications for Manufacturing, Springer, 2011
T. Marwala, Condition Monitoring Using Computational
Intelligence Methods (Applications in Mechanical
and Electrical Systems), Springer, 2012
M. Misiti, Y. Misiti, G. Oppenheim, J. Poggi (ed.), Wavelets and their Applications, ISTE, 2013
A. G. Piersol, T. L. Paez, Harris’ Shock And Vibration Handbook, McGraw-Hill, 2010
B. Boashash (ed.), Time Frequency Signal Analysis and Processing, Elsevier, 2003
S.W. Smith, The Scientist and Engineer's Guide to Digital Signal Processing (http://www.dspguide.com)
J. W. Leis, Digital Signal Processing Using MATLAB, John Wiley & Sons, 2011.
R.C. Gonzalez, Digital Image Processing, Prentice Hall, 2002
ajánlott nyelvtudás (magyar oldal): angol felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2018-02-16
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
