témavezető: Siket István
helyszín (magyar oldal): SZTE helyszín rövidítés: SZTE
A kutatási téma leírása:
Egy szoftver minőségének meghatározására számos jellemzőt figyelembe vehetünk, mint például szoftver metrikák, kód másolatok, kódolási szabálysértések vagy tesztlefedettség. Ezek közös jellemzője, hogy csak egy pillanatfelvételt adnak a szoftverről, annak múltjáról nem mutatnak meg semmit sem, pedig ezek is fontos információval szolgálhatnak a "diagnózis felállításához". A kutatás célja, hogy megvizsgáljuk milyen mérőszámokkal lehet jellemezni a szoftver múltját, illetve azokat hogyan lehet felhasználni a szoftver minősítésében.
előírt nyelvtudás: angol felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2022-03-15
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).