témavezető: Nagy Antal
helyszín (magyar oldal): SZTE helyszín rövidítés: SZTE
A kutatási téma leírása:
A tomográfia mára általánosan elfogadott eszköz 3D-s tárgyak szerkezetének vizsgálatában, amikor a tárgyat nem lehet vagy nem szabad szétdarabolni (pl. betegvizsgálatok vagy az ún. nem-roncsoló anyagvizsgálatnál). Ezek nélkül ma már nem lehetne például hatékony orvosi diagnózisokat készíteni.
A tomográfiának egy speciális ága az, amikor a rekonstruálandó tárgy anyagait (elnyelődési együtthatóit) ismerjük és csak ezeknek az anyagoknak a térbeli eloszlását kell meghatározni. Ilyen például a tomográfia ipari alkalmazásainak nagy része. Ebben az esetben lehet alkalmazni az ún. diszkrét tomográfiát (DT), ahol a rekonstruálandó objektumot reprezentáló függvény értékkészlete ismert, véges (lehetőleg kis elemszámú) diszkrét halmazzal adható meg. Például, ha a tárgy vasból készült, akkor a rekonstruált térben csak vas és levegő van jelen. A rekonstruálandó függvény diszkrét értékkészletének ismerete felhasználható a rekonstrukciós eljárásban, ami lehetővé teszi azt, hogy kisszámú 2-20 vetületből végezzünk rekonstrukciót a hagyományos rekonstrukciós eljárásokhoz szükséges párszáz vetület helyett.
A gyakorlati alkalmazásoknak egyik legnagyobb problémája az, hogy a vetületi adatok torzításokkal terheltek (pl. zaj, vetületi geometria, fizikai jelenségek stb.).
A jelentkező feladata a folytonos és diszkrét tomográfiai képrekonstrukcióra kidolgozott eljárások megismerése után, azok továbbfejlesztése különös tekintettel az alábbiakra:
• Matematikai modellezése a vetületekben előforduló torzításoknak
• Torzítások hatásának a vizsgálata a rekonstrukciós algoritmusokra
• Képfeldolgozási műveletek vizsgálata, melyek a vetületeken közvetlenül illetve a tomográfiai algoritmusokon belül alkalmazva a rekonstrukció minőségét javítják (előfeldolgozási műveletek, zajszűrés, új rekonstrukciós módszerek)
• Vetületi adatokból kinyerhető attribútumok meghatározása, amelyek felhasználhatóak az előfeldolgozási és rekonstrukciós algoritmusok során a torzítások csökkentésére
• A vizsgált anyagok elnyelődési együtthatóinak és a torzításnak együttes hatásának a tanulmányozása a rekonstrukció eredményére
• A torzítások hatásának a vizsgálata többértékű diszkrét tomográfiai problémák esetén
• A problémák tanulmányozásához szükséges keretrendszer fejlesztése, különösen a párhuzamosítható folyamatok GPU-n való megvalósítására
előírt nyelvtudás: angol ajánlott nyelvtudás (magyar oldal): angol további elvárások: C/C++/ Matlab jártasság, GPGPU ismeretek előnyt jelentenek
felvehető hallgatók száma: 1
Jelentkezési határidő: 2022-03-15
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Bejelentkezés
