Thesis supervisor: Péter Petrik
Location of studies (in Hungarian): MTA EK MFA Abbreviation of location of studies: MFA
Description of the research topic:
A bio és nano tudományok rohamos fejlődése megköveteli a mérési módszerek fejlesztését, érzékenységének, megbízhatóságának javítását, információtartalmának növelését. A szenzorikától az elektronikus eszközök technológiájáig kulcsfontosságú a határfelületek, és az ezeken létrehozott vékonyrétegek szerkezetének megértése és nagy pontosságú mérése. A munka célja optikai mérési eljárások fejlesztése vékonyréteg nanoszerkezetek vizsgálatára, elsősorban bioszenzorok fejlesztéséhez. A jelölt feladata bekapcsolódni a hardveres és kiértékelési munkákba. Az MFA Fotonika Laboratóriuma nem csak folyadékcellák és szenzorikai hardverek fejlesztésével, hanem szenzorfelületek és nanoszerkezetek tervezésével és készítésével, valamint az ezek méréséhez szükséges, főként polarizációs optikai technikák és kiértékelési eljárások fejlesztésével is foglalkozik. A mérési eljárások tökéletesítése önmagában is fontos cél, de ennek lényeges szerepe és hozadéka kell legyen, hogy az egyre érzékenyebb mérési módszerekkel megértsük a rétegek szerkezetét, azok kialakulásának mechanizmusát, és ezáltal jobb szenzorikai rétegeket tudjunk előállítani. A laborról és az aktuális témákról további részletek találhatók a http://www.ellipsometry.hu honlapon.
A kutatási téma előzményei:
Az MTA EK MFA Fotonika Laboratóriumában a szilárd-folyadék határfelületek folyamatkövető optikai vizsgálatát mintegy tíz éve kezdtük el. A vékonyrétegek és felületek optikai vizsgálata terén a labornak több, mint 30 éves tapasztalata van.
Number of students who can be accepted: 1
Deadline for application: 2018-01-31
2024. IV. 17. ODT ülés Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).
Login
