Nyomtatási kép ARCHÍV OLDAL Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2011. IV. 14. Közlemények |
2011
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
Szilasi Szabolcs Zoltán, Kokavecz János, Huszanka Róbert, Rajta István: Compaction of poly(dimethylsiloxane) (PDMS) due to proton beam irradiation, Applied Surface Science, pp. 4612-4615 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 1.616 nyelv: angol
|
2009
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
G. Gajdatsy, F. Benedek, J. Kokavecz, G. Szabo, J. Kornis: Improved fiber optic device for in-situ determination of electrolyte stratification in lead-acid batteries, Review of Scientific Instruments, pp. 125108-125108 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 1.521 nyelv: angol
|
2008
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
J. Kokavecz, A. Mechler: Spring constant of microcantilevers in fundamental and higher eigenmodes, Physical Review B, pp. 172101-172101 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.475 független idéző közlemények száma: 1 nyelv: angol
|
2007
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
J. Kokavecz, A. Mechler: Investigation of fluid cell resonances in intermittent contact mode atomic force microscopy, Applied Physics Letters, pp. 023113-023113 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.554 független idéző közlemények száma: 5 nyelv: angol
|
2006
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
J. Kokavecz, O. Marti, P. Heszler, A. Mechler: Imaging bandwidth of the tapping mode atomic force microscope probe, Physical Review B, pp. 155403-155403 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.475 független idéző közlemények száma: 9 nyelv: angol
|
2005
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
J. Kokavecz, Z. Toth, Z. L. Horvath, P. Heszler, A. Mechler: Novel amplitude and frequency demodulation algorithm for a virtual dynamic atomic force microscope, Nanothenology vol:17(7) Special issue on NC-AFM, pp. 173-177 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.137 független idéző közlemények száma: 4 nyelv: angol
|
2005
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
A. Mechler, J. Kopniczky, J. Kokavecz, A. Hoel, C. G. Granqvist, P. Heszler: Anomalies in nanostructure size measurements by AFM, Phys. Rev. B, pp. 125407-125407 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.475 független idéző közlemények száma: 10 nyelv: angol
|
2004
kézi bevitellel, 2011. V. 13. |
J. Kokavecz, Z. L. Horvath, A. Mechler: Dynamical properties of the Q-controlled atomic force microscope, Appl. Phys. Lett. 85(15), pp. 3232-3234 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.554 független idéző közlemények száma: 16 nyelv: angol
|
2003
kézi bevitellel, 2011. V. 12. |
A. Mechler, J. Kokavecz, P. Heszler, R. Lal: Surface energy maps of nanostructures: Atomic force microscopy and numerical simulation study, App. Phys. Lett. 82(21), pp. 3740-3742 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 3.554 független idéző közlemények száma: 9 nyelv: angol
|
2003
kézi bevitellel, 2011. V. 13. |
J. Kokavecz, P. Heszler, Z. Toth, A. Mechler: Effect of step function-like perturbation on intermittent contact mode sensors: a response analysis, Appl. Surf. Sci. 210(1-2), pp. 123-127 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk impakt faktor: 1.222 nyelv: angol
|
| a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma: | 54 |
|
|