Nyomtatási kép ARCHÍV OLDAL Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2021. I. 13. Közlemények |
2018
adattárból, 2019. III. 19. |
Agocs Emil, Attota Ravi Kiran: Enhancing optical microscopy illumination to enable quantitative imaging, SCIENTIFIC REPORTS 8: 4782 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk nyelv: angol URL |
2017
adattárból, 2019. III. 19. |
Agocs Emil, Kozma Peter, Nador Judit, Hamori Andras, Janosov Milan, Kalas Benjamin, Kurunczi Sandor, Fodor Balint, Ehrentreich-Förster Eva, Fried Miklos, Horvath Robert, Petrik Peter: Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 289-294. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 1 nyelv: angol
|
2017
adattárból, 2019. III. 19. |
Agocs E, Zolnai Z, Rossall AK, van den Berg JA, Fodor B, Lehninger D, Khomenkova L, Ponomaryov S, Gudymenko O, Yukhymchuk V, Kalas B, Heitmann J, Petrik P: Optical and structural characterization of Ge clusters embedded in ZrO2, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 283-288. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk nyelv: angol
|
2016
adattárból, 2019. III. 19. |
Fodor Balint, Agocs Emil, Bardet Benjamin, Defforge Thomas, Cayrel Frederic, Alquier Daniel, Fried Miklos, Gautier Gael, Petrik Peter: Porosity and thickness characterization of porous Si and oxidized porous Si layers – an ultraviolet-visible-mid infrared ellipsometry study, MICROPOROUS AND MESOPOROUS MATERIALS 227: pp. 112-120. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 6 nyelv: angol URL |
2015
adattárból, 2019. III. 19. |
Chandrappan J, Murray M, Kakkar T, Petrik P, Agocs E, Zolnai Z, Steenson DP, Jha A, Jose G: Target dependent femtosecond laser plasma implantation dynamics in enabling silica for high density erbium doping, SCIENTIFIC REPORTS 5: 14037 dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 4 nyelv: angol URL |
2014
adattárból, 2019. III. 19. |
Agocs E, Fodor B, Pollakowski B, Beckhoff B, Nutsch A, Jank M, Petrik P: Approaches to calculate the dielectric function of ZnO around the band gap, THIN SOLID FILMS 571: (3) pp. 684-688. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 13 nyelv: angol URL |
2013
adattárból, 2019. III. 19. |
Saftics András, Agócs Emil, Fodor Bálint, Patkó Dániel, Petrik Péter, Kolari Kai, Aalto Timo, Fürjes Péter, Horvath Robert, Kurunczi Sándor: Investigation of thin polymer layers for biosensor applications, APPLIED SURFACE SCIENCE 281: pp. 66-72. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 8 nyelv: angol
|
2013
adattárból, 2019. III. 19. |
Agocs E, Nassiopoulou AG, Milita S, Petrik P: Model dielectric function analysis of the critical point features of silicon nanocrystal films in a broad parameter range, THIN SOLID FILMS 541: pp. 83-86. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 1 nyelv: angol
|
2012
adattárból, 2019. III. 19. |
Korosi L, Papp S, Beke S, Pecz B, Horvath R, Petrik P, Agocs E, Dekany I: Highly transparent ITO thin films on photosensitive glass: sol-gel synthesis, structure, morphology and optical properties, APPLIED PHYSICS A - MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING 107: (2) pp. 385-392. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 17 nyelv: angol
|
2011
adattárból, 2019. III. 19. |
Agocs E, Petrik P, Milita S, Vanzetti L, Gardelis S, Nassiopoulou AG, Pucker G, Balboni R, Fried M: Optical characterization of nanocrystals in silicon rich oxide superlattices and porous silicon, THIN SOLID FILMS 519: (9) pp. 3002-3005. dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk független idéző közlemények száma: 5 nyelv: angol
|
| a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma: | 55 |
|
|