Agócs Emil - ODT Személyi adatlap


	Bejelentkezés Fórum Szervezet tisztségviselők tagintézmények határozatok alapító okirat ügyrend Doktori képzés doktori iskolák intézményenként tudományáganként azonosító alapján megszűnt oktatók név alapján kutatási téma szerint archívum témakiírások doktori iskolánként tudományáganként kutatási téma szerint témavezetések hallgatók keresése Doktori védések intézményenként tudományáganként név szerint dátum szerint doktori iskolánként Honosított fokozatok intézményenként tudományáganként név szerint dátum szerint Habilitációs előadások intézményenként tudományterületenként név szerint Dokumentumok nyilvános anyagok hírek jogszabályok útmutatók Kapcsolatok elérhetőségünk partnereink

Személyi adatlap

Nyomtatási kép

ARCHÍV OLDAL
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2021. I. 13.

Személyes adatok

név	Agócs Emil
születési év	1984
intézmény neve	Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
doktori iskola	BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (oktató Az oktató a doktori iskola doktoranduszai számára oktat tantárgyat, és/vagy a doktori iskola megszavazta, hogy doktoranduszok számára kutatási témát írjon ki. )
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása	BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 100%

Elérhetőségek
drótpostacím	agocs.emilenergia.mta.hu
telefonszám	+36 1 392-2502
	saját honlap (angol)

Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím	PhD
fokozat megszerzésének éve	2015
fokozat tudományága	anyagtudományok és technológiák
fokozatot kiadó intézmény neve	Pannon Egyetem

Jelenlegi munkahelyek
2019 -	Technische Universität Braunschweig (további intézmény) további (PostDoc)
2016 -	National Institute of Standards and Technology (további intézmény) további (Guest Researcher)
2012 -	Energiatudományi Kutatóközpont további (tudományos munkatárs)

Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma	0
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma	0
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
	Témakiírások

Kutatás
kutatási terület	Optikai mérési módszerek fejlesztése (Spektroszkópiai ellipszométer, Scaterometer, Optikai mikroszkóp, Bioszenzor)
jelenlegi kutatásainak tudományága	anyagtudományok és technológiák fizikai tudományok

Közlemények

2018

Agocs Emil, Attota Ravi Kiran: Enhancing optical microscopy illumination to enable quantitative imaging, SCIENTIFIC REPORTS 8: 4782
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL

2017

Agocs Emil, Kozma Peter, Nador Judit, Hamori Andras, Janosov Milan, Kalas Benjamin, Kurunczi Sandor, Fodor Balint, Ehrentreich-Förster Eva, Fried Miklos, Horvath Robert, Petrik Peter: Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 289-294.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol

2017

Agocs E, Zolnai Z, Rossall AK, van den Berg JA, Fodor B, Lehninger D, Khomenkova L, Ponomaryov S, Gudymenko O, Yukhymchuk V, Kalas B, Heitmann J, Petrik P: Optical and structural characterization of Ge clusters embedded in ZrO2, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 283-288.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol

2016

Fodor Balint, Agocs Emil, Bardet Benjamin, Defforge Thomas, Cayrel Frederic, Alquier Daniel, Fried Miklos, Gautier Gael, Petrik Peter: Porosity and thickness characterization of porous Si and oxidized porous Si layers – an ultraviolet-visible-mid infrared ellipsometry study, MICROPOROUS AND MESOPOROUS MATERIALS 227: pp. 112-120.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 6
nyelv: angol
URL

2015

Chandrappan J, Murray M, Kakkar T, Petrik P, Agocs E, Zolnai Z, Steenson DP, Jha A, Jose G: Target dependent femtosecond laser plasma implantation dynamics in enabling silica for high density erbium doping, SCIENTIFIC REPORTS 5: 14037
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 4
nyelv: angol
URL

2014

Agocs E, Fodor B, Pollakowski B, Beckhoff B, Nutsch A, Jank M, Petrik P: Approaches to calculate the dielectric function of ZnO around the band gap, THIN SOLID FILMS 571: (3) pp. 684-688.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 13
nyelv: angol
URL

2013

Saftics András, Agócs Emil, Fodor Bálint, Patkó Dániel, Petrik Péter, Kolari Kai, Aalto Timo, Fürjes Péter, Horvath Robert, Kurunczi Sándor: Investigation of thin polymer layers for biosensor applications, APPLIED SURFACE SCIENCE 281: pp. 66-72.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 8
nyelv: angol

2013

Agocs E, Nassiopoulou AG, Milita S, Petrik P: Model dielectric function analysis of the critical point features of silicon nanocrystal films in a broad parameter range, THIN SOLID FILMS 541: pp. 83-86.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol

2012

Korosi L, Papp S, Beke S, Pecz B, Horvath R, Petrik P, Agocs E, Dekany I: Highly transparent ITO thin films on photosensitive glass: sol-gel synthesis, structure, morphology and optical properties, APPLIED PHYSICS A - MATERIALS SCIENCE AND PROCESSING 107: (2) pp. 385-392.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 17
nyelv: angol

2011

Agocs E, Petrik P, Milita S, Vanzetti L, Gardelis S, Nassiopoulou AG, Pucker G, Balboni R, Fried M: Optical characterization of nanocrystals in silicon rich oxide superlattices and porous silicon, THIN SOLID FILMS 519: (9) pp. 3002-3005.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 5
nyelv: angol

a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma:

Tudománymetriai adatok

Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban

a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:

összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:

kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:

monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:

összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:

158

2024. IV. 17.
ODT ülés
Az ODT következő ülésére 2024. június 14-én, pénteken 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).