Simon Alíz - ODT Személyi adatlap

Közlemények

2011

Simon A., et al.: PIXE analysis of Middle European 18th and 19th centruy glass seals, X-Ray Spectrometry 40, pp. 224-228
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.443
nyelv: angol

2010

Simon A., et al.: Investigation of hydrogen depletion of organic materials upon ion beam irradiation by simultaneous micro-RBS and micro-ERDA techniques, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 268, pp. 2197-2201
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.156
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol

2009

Yalcin C., Güray R. T., Özkan N., Kutlu S., Gyürky Gy., Farkas J., Kiss G. Gy., Fülöp Zs., Simon A., Somorjai E., Rauscher T.: Odd p isotope 113In: Measurement of alpha-induced reactions, Physical Review C 79, pp. 5801-9
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 3.477
független idéző közlemények száma: 7
nyelv: angol
URL

2009

Simon A., et al.: Investigation of an ion-milled Si/Cr multilayer using micro-RBS, ellipsometry and AES depth profiling techniques, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 267, pp. 2212-2215
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.156
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
Teljes szöveg

2007

Simon A., et al.: Investigation of radiation damage in a Si PIN photodiode for particle detection, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 260, pp. 304-308
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 0.997
független idéző közlemények száma: 3
nyelv: angol
Teljes szöveg

2005

Simon A., Kalinka G.: Investigation of charge collection in a silicon PIN photodiode, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 231, pp. 507-592
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.181
független idéző közlemények száma: 10
nyelv: angol
Teljes szöveg

2004

Simon A., et al.: The new Surrey ion beam analysis facility, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 219, pp. 405-468
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 0.997
független idéző közlemények száma: 8
nyelv: angol

2002

Simon A., et al.: Micro-RBS characterisation of the chemical composition and particulate depostion on pulsed laser deposited Si1-xGex thin films, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms 190, pp. 351-356
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 1.158
független idéző közlemények száma: 9
nyelv: angol

2000

Slotte J., Laakso A., Ahlgren T., Rauhala E., Salonen R., Raisanen J., Simon A., et al.: Influence of surface topography on depth profiles obtained by Rutherford backscattering spectrometry, Journal of Applied Physics 87, pp. 140-143
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 2.180
független idéző közlemények száma: 8
nyelv: angol

1998

Szörényi T., Geretovszky Zs., Tóth J., Simon A., Cserháti Cs.: Laser direct writing of tin oxide patterns, Vacuum 50, pp. 327-329
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
impakt faktor: 0.474
független idéző közlemények száma: 9
nyelv: angol

a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma: