Riesz Ferenc - ODT Személyi adatlap


	Bejelentkezés Fórum Szervezet tisztségviselők tagintézmények határozatok alapító okirat ügyrend Doktori képzés doktori iskolák intézményenként tudományáganként azonosító alapján megszűnt oktatók név alapján kutatási téma szerint archívum témakiírások doktori iskolánként tudományáganként kutatási téma szerint témavezetések hallgatók keresése Doktori védések intézményenként tudományáganként név szerint dátum szerint doktori iskolánként Honosított fokozatok intézményenként tudományáganként név szerint dátum szerint Habilitációs előadások intézményenként tudományterületenként név szerint Dokumentumok nyilvános anyagok hírek jogszabályok útmutatók Kapcsolatok elérhetőségünk partnereink

Személyi adatlap

Nyomtatási kép

Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2020. X. 17.

Személyes adatok

név	Riesz Ferenc
intézmény neve	Budapesti Műszaki és Gazdaságtudományi Egyetem
doktori iskola	BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (oktató Az oktató a doktori iskola doktoranduszai számára oktat tantárgyat, és/vagy a doktori iskola megszavazta, hogy doktoranduszok számára kutatási témát írjon ki. )

Elérhetőségek
drótpostacím	rieszmfa.kfki.hu
telefonszám	+36 1 392-2222/3156
	saját honlap
	saját honlap (angol)

Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím	PhD
fokozat megszerzésének éve	1994
fokozat tudományága	villamosmérnöki tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve	MTA Tudományos Minősítő Bizottság
tudományos fokozat, cím	CSc
fokozat megszerzésének éve	1994
fokozat tudományága
fokozatot kiadó intézmény neve	MTA

Jelenlegi munkahelyek
2015 -	MTA Energiatudományi Kutatóközpont, Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet (további intézmény) további (tudományos főmunkatárs)

Témavezetés

témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma

ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma

témavezetettjei közül fokozatot szereztek:

Lukács István Endre

PhD

2006

FTDI-BME

Témakiírások

Kutatás
kutatási terület	félvezetők fizikája és technológiája, síkjellegű felületek optikai metrológiája, Makyoh-topográfia
jelenlegi kutatásainak tudományága	villamosmérnöki tudományok fizikai tudományok

Közlemények

2019

Riesz Ferenc: The effects of the global surface curvature on Makyoh-topogaphy imaging, Photonics Letters of Poland 11: (1) pp. 4-6.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL

2018

Riesz Ferenc: Structured-illumination Makyoh-topography: optimum grid position and its constraints, SURFACE TOPOGRAPHY: METROLOGY AND PROPERTIES 6: (4) 045009
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL

2016

Bosi M, Attolini G, Negri M, Ferrari C, Buffagni E, Frigeri C, Calicchio M, Pecz B, Riesz F, Cora I, Osvath Z, Jiang L, Borionetti G: Defect structure and strain reduction of 3C-SiC/Si layers obtained with the use of a buffer layer and methyltrichlorosilane addition, CRYSTENGCOMM 18: (15) pp. 2770-2779.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL

2014

Ryć L, Barna A, Calcagno L, Földes IB, Parys P, Riesz F, Rosińsk M, Szatmári S, Torrisi L: Measurement of ion emission from plasmas obtained with a 600 fs KrF laser, PHYSICA SCRIPTA T161: 014032
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL

2014

Biró F, Dücso C, Hajnal Z, Riesz F, Pap AE, Bársony I: Thermo-mechanical design and characterization of low dissipation micro-hotplates operated above 500 °C, MICROELECTRONICS JOURNAL 45: (12) pp. 1822-1828.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 4
nyelv: angol
URL

2000

Riesz F: Geometrical optical model of the image formation in Makyoh (magic-mirror) topography, JOURNAL OF PHYSICS D-APPLIED PHYSICS 33: (23) pp. 3033-3040.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 25
nyelv: angol
URL

1996

Riesz F: Crystallographic tilting in high-misfit (100) semiconductor heteroepitaxial systems, JOURNAL OF VACUUM SCIENCE AND TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS 14: (2) pp. 425-430.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 40
nyelv: angol
URL

1996

Riesz F: Crystallographic tilting in lattice-mismatched heteroepitaxy: A Dodson-Tsao relaxation approach, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 79: (8) pp. 4111-4117.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 25
nyelv: angol
URL

1991

Riesz F, Lischka K, Rakennus K, Hakkarainen T, Pesek A: Tilting of lattice planes in InP epilayers grown on miscut GaAs substrates: the effect of initial growth conditions, JOURNAL OF CRYSTAL GROWTH 114: (1-2) pp. 127-132.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 20
nyelv: angol
URL

1991

Pesek A, Hingerl K, Riesz F, Lischka K: Lattice misfit and relative tilt of lattice planes in semiconductor heterostructures, SEMICONDUCTOR SCIENCE AND TECHNOLOGY 6: (7) pp. 705-708.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 30
nyelv: angol
URL

a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma:

147

Tudománymetriai adatok

Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban

a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:

152

összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:

168

kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:

monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:

összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:

428

Akkreditációs szempontból jelentős egyéb információk
Nemzetközi szabadalom: Lukács IE (23%), Makai JP (24%), Pfitzner L (5%), Riesz F (34%), Szentpáli B (14%) Apparatus and measurement procedure for the fast, quantitative, non-contact topographic investigation of semiconductor wafers and other mirror like surfaces European Patent EP 1 434 981 B1, July 5, 2006 US Patent 7,133,140 B2, November 7, 2006