Bejelentkezés
 Fórum
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2019. XI. 15.
Személyes adatok
Serényi Miklós
név Serényi Miklós
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (oktató)
PTE Fizika Doktori Iskola (oktató)
OE Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola (témakiíró)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 50%
PTE Fizika Doktori Iskola 50%
Elérhetőségek
drótpostacím serenyimfa.kfki.hu
telefonszám +36 1 392-2693
mobiltelefon száma +36 30 600-4360
saját honlap
saját honlap (angol)
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím PhD
fokozat megszerzésének éve 1994
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
tudományos fokozat, cím CSc
fokozat megszerzésének éve 1994
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
tudományos fokozat, cím DSc
fokozat megszerzésének éve 2011
fokozat tudományága anyagtudományok és technológiák
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
Jelenlegi munkahelyek
2018 - MTA EK MFA
további (professor emeritus)
2011 - MTA TTK MFA (további intézmény)
tudományos tanácsadó
1998 - MTA Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet (további intézmény)
további (tudományos főmunkatárs)
1974 - MTA MFKI (további intézmény)
további (Tud. munkatárs)
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 2
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 2
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
(50%) Vörös Zoltán PhD 2006  
(50%) Pávó József kandidátusi 1994  

  Témakiírások
Kutatás
kutatási terület Fotonika, félvezető fotonika
jelenlegi kutatásainak tudományága fizikai tudományok
anyagtudományok és technológiák
Közlemények
2018

Gurbán S, Petrik P, Serényi M, Sulyok A, Menyhárd M, Baradács E, Parditka B, Cserháti C, Langer GA, Erdélyi Z: Electron irradiation induced amorphous SiO 2 formation at metal oxide/Si interface at room temperature; electron beam writing on interfaces, SCIENTIFIC REPORTS 8: (1) p. 2124.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2018

Serényi M, Frigeri C, Schiller R: Vegard's-law-like dependence of the activation energy of blistering on the x composition in hydrogenated a-SixGe1-x, JOURNAL OF ALLOYS AND COMPOUNDS 763: pp. 471-477.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2017

Lohner T, Serényi M, Szilágyi E, Zolnai Z, Czigány Z, Khánh NQ, Petrik P, Fried M: Spectroellipsometric detection of silicon substrate damage caused by radiofrequency sputtering of niobium oxide, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 636-642.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2017

Serenyi M, Frigeri C, Csik A, Khanh NQ, Nemeth A, Zolnai Z: On the mechanisms of hydrogen-induced blistering in RF-sputtered amorphous Ge, CRYSTENGCOMM 19: (11) pp. 1486-1494.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2015

Frigeri C, Serényi M, Szekrényes Z, Kamarás K, Csik A, Khánh NQ: Effect of heat treatments on the properties of hydrogenated amorphous silicon for PV and PVT applications, SOLAR ENERGY 119: pp. 225-232.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 3
nyelv: angol
URL 
2013

Serényi M, Frigeri C, Szekrényes Zs, Kamarás K, Nasi L, Csik A, Khanh NQ: On the formation of blisters in annealed hydrogenated a-Si layers, NANOSCALE RESEARCH LETTERS 8: 84
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2013

Frigeri C, Serényi M, Csik A, Szekrényes Zs, Kamarás K, Nasi L, Khánh NQ: Evolution of the structure and hydrogen bonding configuration in annealed hydrogenated a-Si/a-Ge multilayers and layers, APPLIED SURFACE SCIENCE 269: pp. 12-16.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2013

Frigeri C, Serényi M, Khánh N Q, Csik A, Nasi L, Erdélyi Z, Beke D L, -G Boyen H: Hydrogen behaviour in amorphous Si/Ge nano-structures after annealing, APPLIED SURFACE SCIENCE 267: pp. 30-34.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 4
nyelv: angol
URL 
2011

Frigeri C, Serényi M, Khánh N Q, Csík A, Riesz F, Erdélyi Z, Nasi L, Beke D L, Boyen H-G: Relationship between structural changes, hydrogen content and annealing in stacks of ultrathin Si/Ge amorphous layers, NANOSCALE RESEARCH LETTERS 6: (1) 189
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 4
nyelv: angol
URL 
2008

Serenyi M, Lohner T, Petrik P, Zolnai Z, Horvath ZE, Khanh NQ: Characterization of sputtered and annealed niobium oxide films using spectroscopic ellipsometry, Rutherford backscattering spectrometry and X-ray diffraction, THIN SOLID FILMS 516: (22) pp. 8096-8100.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 26
nyelv: angol
URL 
a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma:44 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:
128
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
126
kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
2 
összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:
343

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 2.2358 ( 2017. X. 31. )