Bejelentkezés
 Fórum
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2022. I. 03.
Személyes adatok
Fried Miklós
név Fried Miklós
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (oktató)
BME Oláh György Doktori Iskola (Kémia és Vegyészmérnöki tudományok) (oktató)
PE Vegyészmérnöki és Anyagtudományok Doktori Iskola (oktató)
OE Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola (témavezető)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 1%
BME Oláh György Doktori Iskola (Kémia és Vegyészmérnöki tudományok) 20%
PE Vegyészmérnöki és Anyagtudományok Doktori Iskola 1%
PE Molekuláris- és Nanotechnológiák Doktori Iskola 52%
OE Anyagtudományok és Technológiák Doktori Iskola 26%
adott-e már oktatóként valamely doktori iskolát működtető intézménynek akkreditációs nyilatkozatot? Pannon Egyetem
Elérhetőségek
drótpostacím friedmfa.kfki.hu
telefonszám +36 20 549-2414
saját honlap
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím PhD
fokozat megszerzésének éve 1985
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
tudományos fokozat, cím DSc
fokozat megszerzésének éve 2005
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
Jelenlegi munkahelyek
1982 - MTA EK Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Kutatóintézet
tudományos tanácsadó
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 3
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 3
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
Major Csaba Ferenc PhD 2010  FTDI-BME
Polgár Olivér PhD 1999  
(50%) Rédei László PhD 1998  

jelenlegi doktorandusz hallgatói az abszolutórium várható évével:
Ismaeel Noor Taha (PhD) (2025/08)  ATDI-OE
Zereay Nugusse Berhane (PhD) (2025/08)  ATDI-OE
  Témakiírások
Kutatás
kutatási terület szilárdtest fizika, ellipszometria vékonyrétegekre. Ion implantáció, nano-kristályos félvezetők méretváltozásának hatása az optikai tulajdonságokra ill. biológiai anyagok optikai tulajdonságai
jelenlegi kutatásainak tudományága anyagtudományok és technológiák
fizikai tudományok
Közlemények
2021

Kalas B, Ferencz K, Saftics A, Czigany Z, Fried M, Petrik P: Bloch surface waves biosensing in the ultraviolet wavelength range - Bragg structure design for investigating protein adsorption by in situ Kretschmann-Raether ellipsometry, APPLIED SURFACE SCIENCE 536: 147869
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2020

Kalas B, Zolnai Z, Safran G, Serenyi M, Agocs E, Lohner T, Nemeth A, Khanh NQ, Fried M, Petrik P: Micro-combinatorial sampling of the optical properties of hydrogenated amorphous Si (1-x) Ge (x) for the entire range of compositions towards a database for optoelectronics, SCIENTIFIC REPORTS 10: (1) 19266
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2018

Zolnai Zs, Zámbó D, Osváth Z, Nagy N, Fried M, Németh A, Pothorszky Sz, Szekrényes DP, Deák A: Gold Nanorod Plasmon Resonance Damping Effects on a Nanopatterned Substrate, JOURNAL OF PHYSICAL CHEMISTRY C 122: (43) pp. 24941-24948.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 3
nyelv: angol
URL 
2017

Fodor Bálint, Defforge Thomas, Agócs Emil, Fried Miklós, Gautier Gaël, Petrik Péter: Spectroscopic ellipsometry of columnar porous Si thin films and Si nanowires, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 397-404.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 16
nyelv: angol
URL 
2017

Agocs Emil, Kozma Peter, Nador Judit, Hamori Andras, Janosov Milan, Kalas Benjamin, Kurunczi Sandor, Fodor Balint, Ehrentreich-Förster Eva, Fried Miklos, Horvath Robert, Petrik Peter: Grating coupled optical waveguide interferometry combined with in situ spectroscopic ellipsometry to monitor surface processes in aqueous solutions, APPLIED SURFACE SCIENCE 421: pp. 289-294.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2014

Ambalanath Shan, M Fried, G Juhasz, C Major, O Polgar, A Nemeth, P Petrik, Lila R Dahal, Jie Chen, Zhiquan Huang, N J Podraza, R W Collins: High-Speed Imaging/Mapping Spectroscopic Ellipsometry for In-Line Analysis of Roll-to-Roll Thin Film Photovoltaics, IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS 4: (1) pp. 355-361. pp. 355-361.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 9
nyelv: angol
URL 
2009

Major C, Nemeth A, Radnoczi G, Czigany Z, Fried M, Labadi Z, Barsony I: Optical and electrical characterization of aluminium doped ZnO layers, APPLIED SURFACE SCIENCE 255: (21) pp. 8907-8912.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 28
nyelv: angol
DOI 
1997

Krotkus A, Grigoras K, Pacebutas V, Barsony I, Vazsonyi E, Fried M, Szlufcik J, Nijs J, Levy Clement C: Efficiency improvement by porous silicon coating of multicrystalline solar cells, SOLAR ENERGY MATERIALS AND SOLAR CELLS 45: (3) pp. 267-273.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 60
nyelv: angol
DOI 
1992

FRIED M, LOHNER T, AARNINK WAM, HANEKAMP LJ, VANSILFHOUT A: DETERMINATION OF COMPLEX DIELECTRIC FUNCTIONS OF ION-IMPLANTED AND IMPLANTED-ANNEALED AMORPHOUS-SILICON BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 71: (10) pp. 5260-5262.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 80
nyelv: angol
DOI 
1992

FRIED M, LOHNER T, AARNINK WAM, HANEKAMP LJ, VANSILFHOUT A: NONDESTRUCTIVE DETERMINATION OF DAMAGE DEPTH PROFILES IN ION-IMPLANTED SEMICONDUCTORS BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY USING DIFFERENT OPTICAL-MODELS, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 71: (6) pp. 2835-2843.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 60
nyelv: angol
DOI 
a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma:260 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:
277
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
260
kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
4 
külföldön megjelent, figyelembe vehető tudományos közleményei:
232
hazai kiadású, figyelembe vehető idegen nyelvű közleményei:
22
összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:
1994


2022. X. 05.
ODT ülés
Az ODT következő ülésére 2022. december 2-án 10.00 órakor kerül sor a Semmelweis Egyetem Szenátusi termében (Bp. Üllői út 26. I. emelet).

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 2.2358 ( 2017. X. 31. )