Bejelentkezés
 Fórum


 Doktori képzés 

 Doktori védések 

 Honosított fokozatok 

 Habilitációs előadások 

 Dokumentumok 

 Kapcsolatok 
 
 
Személyi adatlap
 Nyomtatási kép
ARCHÍV OLDAL
Az adatok hitelességéről nyilatkozott: 2018. II. 09.
Személyes adatok
Lohner Tivadar
név Lohner Tivadar
intézmény neve
doktori iskola
BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola (oktató)
doktori képzéssel kapcsolatos munkájának megoszlása BME Fizikai Tudományok Doktori Iskola 100%
Elérhetőségek
drótpostacím lohnermfa.kfki.hu
telefonszám +36 1 392-2695
saját honlap
saját honlap (angol)
Fokozat, cím
tudományos fokozat, cím CSc
fokozat megszerzésének éve 1996
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
tudományos fokozat, cím DSc
fokozat megszerzésének éve 2013
fokozat tudományága fizikai tudományok
fokozatot kiadó intézmény neve MTA
Jelenlegi munkahelyek
1972 - MTA Energiatudományi Kutatóközpont Műszaki Fizikai és Anyagtudományi Intézet (további intézmény)
további (Tudományos tanácsadó)
Témavezetés
témavezetői tevékenysége során eddig vezetésére bízott doktoranduszok száma 4
ezek közül abszolutóriumot szerzettek száma 4
témavezetettjei közül fokozatot szereztek:
Zolnai Zsolt PhD 2006  FTDI-BME
Essam Ramadan Shaaban PhD 2004  
Kutatás
kutatási terület Vékony rétegek, felület közeli tartományok vizsgálata spektroszkópiai ellipszometriával és ionsugaras analitikai módszerekkel
jelenlegi kutatásainak tudományága fizikai tudományok
Közlemények
2016

 M Serényi, T Lohner, G Sáfrán, J Szívós: Comparison in formation, optical properties and applicability of DC magnetron and RF sputtered aluminum oxide films, VACUUM 128: pp. 213-218.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2014

 Lohner T, Agócs E, Petrik P, Zolnai Z, Szilágyi E, Kovács I, Szőkefalvi-Nagy Z, Tóth L, Tóth AL, Illés L, Bársony I: Spectroellipsometric and ion beam analytical studies on a glazed ceramic object with metallic lustre decoration, THIN SOLID FILMS 571: (3) pp. 715-719.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
Teljes szöveg 
2014

 Tivadar Lohner, K. Jagadeesh Kumar, Péter Petrik, Aryasomayajula Subrahmanyam, István Bársony: Optical analysis of room temperature magnetron sputtered ITO films by reflectometry and spectroscopic ellipsometry, JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH 29: (14) pp. 1528-1536.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 1
nyelv: angol
URL 
2014

 János Szívós, M Serényi, E Gergely-Fülöp, T Lohner, G Sáfrán: Nanopattern formation in UV laser treated a-AlOx and nc-Al/AlOx layers, VACUUM 109: pp. 200-205.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
nyelv: angol
URL 
2013

 T Lohner, P Csíkvári, P Petrik, G Hárs: Spectroellipsometric characterization of nanocrystalline diamond layers, APPLIED SURFACE SCIENCE 281: pp. 113-117.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 2
nyelv: angol
URL 
2008

 Szilagyi E, Petrik P, Lohner T, Koos AA, Fried M, Battistig G: Oxidation of SiC investigated by ellipsometry and Rutherford backscattering spectrometry, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 104: (1) Paper 014903. 7 p.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 18
nyelv: angol
DOI 
2007

 Serenyi M, Lohner T, Petrik P, Frigeri C: Comparative analysis of amorphous silicon and silicon nitride multilayer by spectroscopic ellipsometry and transmission electron microscopy, THIN SOLID FILMS 515: (7-8) pp. 3559-3562.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 22
nyelv: angol
URL 
2001

 Vazsonyi E, Szilagyi E, Petrik P, Horvath ZE, Lohner T, Fried M, Jalsovszky G: Porous silicon formation by stain etching, THIN SOLID FILMS 388: (1-2) pp. 295-302.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 97
nyelv: angol
DOI 
2000

 Lohner T, Fried M, Petrik P, Polgar O, Gyulai J, Lehnert W: Ellipsometric characterization of oxidized porous silicon layer structures, MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B - SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY 69: (SI) pp. 182-187.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 29
nyelv: angol
DOI 
1992

 FRIED M, LOHNER T, AARNINK WAM, HANEKAMP LJ, VANSILFHOUT A: DETERMINATION OF COMPLEX DIELECTRIC FUNCTIONS OF ION-IMPLANTED AND IMPLANTED-ANNEALED AMORPHOUS-SILICON BY SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY, JOURNAL OF APPLIED PHYSICS 71: (10) pp. 5260-5262.
dokumentum típusa: Folyóiratcikk/Szakcikk
független idéző közlemények száma: 77
nyelv: angol
DOI 
a legjelentősebbnek tartott közleményekre kapott független hivatkozások száma:246 
Tudománymetriai adatok
Tudományos közlemény- és idézőlista mycite adattárban
a 10 válogatott közlemény közé kiválasztható közleményeinek száma:
228
összes tudományos és felsőoktatási közleményének száma:
259
kiválasztható monográfiák és szakkönyvek:
0
monográfiák és szakkönyvek száma melyben fejezetet/részt írt:
2 
összes tudományos közleményének és alkotásainak független idézettségi száma:
1624

 
Minden jog fenntartva © 2007, Országos Doktori Tanács - a doktori adatbázis nyilvántartási száma az adatvédelmi biztosnál: 02003/0001. Program verzió: 2.2358 ( 2017. X. 31. )