témavezető: Petrik Péter
helyszín (magyar oldal): Debreceni Egyetem Műszaki Kar helyszín rövidítés: DE MK
A kutatási téma leírása:
A vékonyréteg-fizika hagyományosan széles eszköztárral rendelkezik a felületek és vékonyrétegek anyagtulajdonságainak nagy érzékenységű meghatározására. Ezek leginkább a kristályszerkezet, a felületi érdesség, a rétegvastagság, az elemösszetétel és sok más fontos paraméter mérésére alkalmasak atomi és nanoskálán. Ezen belül az optikai módszerek alkalmasak határfelületi jelenségek folyamatkövető vizsgálatára. A kutatási program célja optikai módszerek megismerése felületi oxidáció, korrózió és egyéb szerkezeti változások vizsgálatára nanométeres vastagsággal és tized százalékos törésmutató érzékenységgel.